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阻抗分析仪
HIOKI 阻抗分析仪 IM7587

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选件

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选件

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可信赖的机型3GHz

测试电压测量频率:1MHz~3GHz
测量时间:最快0.5ms(模拟测量时间)
测量值偏差:0.07%(测量频率1GHz时的代表值)
基本精度:±0.65% rdg.
紧凑主机仅机架一半大小,测试头尺寸仅手掌大小
丰富的接触检查(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
分析模式下可以边扫描测量频率、测量信号电平边进行测量

主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪专用的测试治具。

 


  • 产品介绍
  • 关联选件
  • 技术资料
  • 基本参数(精度保证时间1年,调整后精度保证时间1年)

    测量模式

    LCR (LCR测量),分析仪 (扫频测量), 连续测量

    测量参数

    Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q

    精度保证范围

    100 mΩ~5 kΩ

    显示范围

    Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)
    Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99)
    θ: ± (0.000°~180.000°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)
    D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)
    G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)

    基本精度

    Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38°

    测量频率

    1 MHz〜3 GHz (设置分辨率100 kHz)

    测量信号电平

    功率 (dBm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm
    电压(V) 模式: 4 mV~502 mVrms
    电流(I) 模式: 0.09 mA~10.04 mArms

    输出阻抗

    50 Ω (10 MHz时)

    显示

    彩色TFT 8.4英寸, 触摸屏

    测量时间

    最快0.5ms(FAST、模拟测量时间、代表值)

    功能

    接触检查、比较器、BIN判定(分类功能)、面板读取/保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿

    接口

    EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN
    RS-232C (选件), GP-IB (选件)

    电源

    AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max

    体积和重量

    主机: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg
    测试头: 90W × 64H × 24D mm, 300 g

    附件

    测试头×1, 连接线×1, 使用说明书×1, CD-R (通讯说明书) ×1, 电源线×1

     


    • HIOKI 阻抗分析仪IM7587.pdf


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